Micro-LED显示技能是一种将尺寸微缩化的半导体发光二极管(LED)以矩阵景象高密度地集成正在一个芯片上的显示技能,是LED芯片与平板显示创修 的交叉学科操纵技能。相较于LCD与○和OL ED显示技能,除了财产链成熟度与创修本钱,Micro-LED显▽示技 能正在亮度画…面破裂器▽、反响速率、功耗、透后度、安谧性等方面具有明显上风,被普及 以为是下 一○代主流显示 ○技能。怎样竣工效果、精度、良率兼具的▽巨量挪动集成 ◁是学术和财产界 配合体贴的闭节重心◁题目之一。正在百舸争流的浩瀚挪动技能中,激光巨量挪动技能慢慢脱颖而出,承载着M▽icro- LED 财 产化征程的期盼。
不日,厦门大学、厦门市他日显示技能磋议院和天马微电子构成的 团结研发团队正在SCIENCE CHINA Inform ation Sci■enc es杂志楬橥了题为“Sup□er retina TFT ba sed f○ull col□or▽ microLED display via○ laser mass transfer”的磋议论文 磋议立异点一:基于激光匀化光斑辐照计划,竣工图形化○衬底G△aN□基Micro-LE D芯片的高质地衬底剥离。 方今,采用266 nm波长的半导体泵浦固体激光(DP○SS激光)对图形化衬底(PSS)GaN基Micro-LED实行激光剥离( LLO ) 时,存正在工艺窗口小,芯片易浮现断裂Bsports必一体育COB小间距LED显示屏画面分割器、角落破损等题目。针对这一题目,团队应用光子追□踪法模仿了PS S□和GaN界★面的能★量漫衍
CO B 小间距LED显示屏< ○/strong>,进而提出激光匀化光斑辐照计划,竣工图形化○衬 底■GaN基Micro-LED芯片的★○高质 地衬 底剥离,良率赶过99%。 图2 Micro- LED FCoC芯片的光学显△微镜下… 图像:(a)蓝光,(b)绿光和(c)红光;放大后的Micro○-◁LE D 芯片共聚△焦激△光扫描显 微镜图 像:(d)蓝光,(e)绿光和(f)红光? 磋议立异点二:提出了 激■■光 巨◁量 ▽△挪 动■众因○子相闭决议 ▽计划,通过对挪动资料物理性情、激光辐照能量、芯片辐照毁伤等因子归纳评议,明显提拔激光巨量挪动的效果、精度 与良率
针对超高像素密度Micro-LED全彩显示屏对芯片激光巨量挪动定位精度与 良率的苛苛条件,团队提出 △一种激光巨量挪动经过的众因子相闭决议计划,如图3所示COB小间距LED显示屏。搜罗:1)基△于激光○与挪动胶彼此效○◁率形式,对挪动胶类型遴选实行归纳评判;2)激光能量局限…与挪动 胶厚度相 闭调控,确保正在无毁 伤情状下竣工芯▽ 片的高精度、高良率挪动;3)采用自愿光学检测 ○(AOI▽ )/P○L检测定○位,对不良芯片实行原位修复。
遵照上述决议计划,团队对挪动资料物理性情、激光辐照能量、明显提拔激光巨量挪动的效果Bsports必一体育柔性LED显示屏COB小间距LED显示屏,、精度与良率,挪动效果达36kk/h,个中= ○蓝○和绿光 =芯 ▽ 片一◁▽次 …□挪 ○动★良率达△99。87%,红光芯片一次挪动良率达99。76%。进一步采★用 266nm…激光 ★ ★实○◁ 行修 复,修复后良率达99。999%。 图★4(a ) G★B- △○○A◁C oC部门芯片摆列的SEM图像(△ 侧 视图 );(b)GB-ACoC芯片的光学显微镜图像;(c)与(b ) 图同视=场下芯片◁PL显微镜图像;(d)R-ACo C部门芯片摆列的SEM图像(侧 视图);(e)R- ACoC芯片 的光学显微镜图像;(f)与(e)图同视场下芯片PL显微镜图像? 基于以上立异技。
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